“學習操作這些用戶友好型系統(tǒng)是不費吹灰之力的。即便我還處在不斷摸索的階段,它們也已經(jīng)給我?guī)砹撕艽蟮膸椭?。”Daniel Steck說。
三年前,Steck從學校畢業(yè)后便加入了質(zhì)保部門,擔任機械工程師。那時,公司還在使用輪廓投影儀進行手動測量。這種方法不僅非常耗時,而且無法重現(xiàn)測量結(jié)果?!懊總€人采用的測量方法都不同,由此形成的測量結(jié)果自然也不盡相同”,Steck回憶道。這是手動測量經(jīng)常遇到的問題。
為確保組件能夠正常使用,在魏森霍爾恩執(zhí)行的檢查流程必須要做到萬無一失,因此,公司需要一種值得所有人信賴的解決方案?!八羞@一切,都是為了在搭建模板和腳手架時,確保相關(guān)人員的安全?!?
采用光學3D掃描系統(tǒng)準確采集關(guān)鍵部件的幾何形狀
“我們會盡可能使用自主生產(chǎn)的零件”,這位質(zhì)保專家解釋道。例如,安裝在腳手架立桿之間的水平桿UH,它由套管、插銷和焊接到兩端的扣接頭組成。
各個組件的形狀可以嚴密契合,由此產(chǎn)生的張力對整個解決方案的穩(wěn)定性至關(guān)重要:“如果不采用這樣的設(shè)計方案,水平桿便可能松動。”
PERI已經(jīng)將這種設(shè)計應(yīng)用于全球的腳手架系統(tǒng)。為實現(xiàn)優(yōu)異的質(zhì)量,設(shè)計圖紙中規(guī)定了準確的公差。首先需要單獨測量所有組件;組裝后,還要再次測量。為使檢查盡可能地徹底,需要非常準確地捕獲整個組件的幾何形狀。
PERI首先進行了基準分析,以據(jù)此選擇可以滿足其特殊需求的光學解決方案。在眾多的競爭對手中,蔡司很快便脫穎而出。最終,PERI購買了ZEISS COMET和ZEISS T-SCAN兩個測量系統(tǒng),用來檢驗全系列PERI組件。Steck對這個選擇非常滿意。
使用手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN測量大型組件
Steck使用ZEISS T-SCAN測量更大的組件,如模板元件和前面提到的水平桿UH。他拿著手動激光掃描儀,首先測量水平桿套管,然后測量包括水平桿端頭在內(nèi)的整個焊接結(jié)構(gòu)。
“這一過程也非??焖俸唵?。”Steck說。他還演示了ZEISS T-SCAN通過與紅色激光條紋相交的綠點測量距離的過程。接著,他將掃描儀在組件的上下側(cè)各移動一次。
如果組件符合PERI的規(guī)格,則定期執(zhí)行隨機抽樣。新的潛在供應(yīng)商也同樣使用這一流程。在批準過程中,將針對各個組件創(chuàng)建檢驗量具,以便“進貨”區(qū)的團隊執(zhí)行快速、可靠的測量,檢查產(chǎn)品的尺寸和功能。使用之前,還會使用蔡司測量系統(tǒng)檢查檢驗量具的質(zhì)量,并定期重新校準。