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T-SCAN:使用接觸式探針擴(kuò)展測(cè)量體積

[原創(chuàng)內(nèi)容] 發(fā)布于:2022-08-31 09:59:46 閱讀:508次 編輯:思誠(chéng)市場(chǎng)部


想知道如何掃描被光學(xué)跟蹤器隱藏的區(qū)域?在本期視頻中,David將教您借助T-POINT接觸式探針擴(kuò)展測(cè)量范圍。您可以邊旋轉(zhuǎn)零件邊掃描,對(duì)所有位置上的相同特征(例如孔)進(jìn)行探測(cè),并將其作為參考點(diǎn)。
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標(biāo)題:T-SCAN:使用接觸式探針擴(kuò)展測(cè)量體積     本文地址:http://m.yunlongwl.cn/article-2317.html
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