ZEISS METROTOM 1工業(yè)CT無損檢測隱蔽缺陷內(nèi)部結構檢測

zeiss metrotom 1主要應用于：無損檢測，一個掃描多個工件，檢測功能：測量內(nèi)部和外部結構尺寸，檢查內(nèi)部缺陷。ZEISS METROTOM 1主要應用于：無損檢測，一次掃描多個工件，檢測功能：測量內(nèi)部和外部結構尺寸，檢查內(nèi)部缺陷。

1、可快速、全面、可重復及精準的三維數(shù)據(jù)

2、相比三坐標測量儀、光學、超聲檢測更高效

一次掃描 – 全面確定無疑：測量、分析及檢測無法以常規(guī)儀器探測的隱藏缺陷及內(nèi)部結構；
借助X射線，您可無損切剖及洞悉內(nèi)在；
無需復雜裝夾，節(jié)省時間及成本；
通過對所有內(nèi)外結構進行計算機斷層掃描成像（CT），即便無CAD模型也可重新復制工件。

3、洞悉您所有的工件尺寸 即便隱藏部分

4、簡易操作對于高效流程至關重要

可面向車間場景及用戶使用

包括：
全合一軟件方案
直觀的用戶界面
自動參數(shù)確認
測量空間的數(shù)字化設置

簡易操作可覆蓋研發(fā)至生產(chǎn)等多樣化作業(yè)且確保靈活性